Nanoimaging of Electronic Heterogeneity in Bi2Se3 and Sb2Te3 Nanocrystals
- Lu, X.
- Khatib, O.
- Du, X.
- Duan, J.
- Wei, W.
- Liu, X.
- Bechtel, H.A.
- D'Apuzzo, F.
- Yan, M.
- Buyanin, A.
- Fu, Q.
- Chen, J.
- Salmeron, M.
- Zeng, J.
- Raschke, M.B.
- Jiang, P.
- Bao, X.
Revista:
Advanced Electronic Materials
ISSN: 2199-160X
Any de publicació: 2018
Volum: 4
Número: 1
Tipus: Article