X-ray diffraction spectrometry in lamellar ion-exchangers for the analysis of the substitution phases with thermal splitting
- Alvarez, C.
- Llavona, R.
- García, JosR.
- Suárez, M.
- Rodríguez, J.
ISSN: 0025-5408
Ano de publicación: 1988
Volume: 23
Número: 4
Páxinas: 487-495
Tipo: Artigo