Estudio y análisis del riesgo de iniciación de la explosión por chispas eléctricas de baja energía e influencia de los materiales de los contactos en circuitos eléctricos de seguridad intrínseca

  1. MARTINEZ DIAZ, CARLOS

Defence university: Universidad Politécnica de Madrid

Year of defence: 1991

Committee:
  1. Camilo Rambaud Pérez Chair
  2. José Antonio Manrique López Secretary
  3. Celestino González Nicieza Committee member
  4. Carlos Fernández Ramón Committee member
  5. Angel Vega Remesal Committee member

Type: Thesis

Teseo: 32520 DIALNET

Abstract

La tesis doctoral constituye un trabajo de investigación en el ámbito de la electrificación en atmósferas explosivas, concretado en el estudio y análisis de los arcos eléctricos de baja energía que se producen en el explosor CEI al ensayar circuitos capacitivos de seguridad intrínseca (modo de protección "L" según la norma en 50.020). En el trabajo se han obtenido los siguientes resultados: 1) Se determinaron las curvas límites de inflamación para los circuitos capacitivos y los grupos de explosión I, IIA, IIB y IIC, encontrando que las tensiones mínimas de inflamación (V.M.L.) establecidas en en 50.020 para los grupos I y IIC, son superiores a las obtenidas en el presente trabajo. 2) Se comprobó que el estado superficial de los electrodos (disco de cadmio) condiciona la sensibilidad del explosor y por lo tanto los resultados de los ensayos, obteniéndose los menores valores de V.M.I. Para discos oxidados superficialmente. 3) Se comprobó que en los circuitos capacitivos, tal y como se definen en en 50.020: a) Los parámetros R y L del circuito influyen decisivamente en los resultados de las pruebas. B) La energía disipada en el arco eléctrico y la tensión inicial de carga del condensador, sirven para definir el riesgo de explosión. C) Las curvas límites de inflamación solo son válidas para tensiones superiores a 10 v. Finalmente se aporta un modelo numérico que permite determinar las características de los arcos eléctricos de cierre en el explosor (arcos de referencia para los circuitos capacitivos) y las energías mínimas de inflamación.