Comportamiento de la eucriptita a alta temperatura mediante estudio in situ por difracción de Rayos X

  1. O. García-Moreno
  2. S. Khainakov
  3. R. Torrecillas
Revista:
Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio

ISSN: 0366-3175

Año de publicación: 2012

Volumen: 51

Número: 3

Páginas: 145-150

Tipo: Artículo

DOI: 10.3989/CYV.212012 DIALNET GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor

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Resumen

La eucriptita es un aluminosilicato de litio con peculiares propiedades de expansión térmica: posee expansión negativa, es decir, se contrae con el aumento de la temperatura en una de sus orientaciones cristalográficas. Debido a esta singularidad la eucriptita se utiliza en la fabricación de materiales con coeficiente de expansión térmica (CTE) próximo a cero. Para este trabajo, se han sintetizado dos composiciones de eucriptita solución sólida con contenidos en Li2O:Al2O3:SiO2 iguales a 1:1:3 y 1:1:2. La síntesis se ha realizado a partir de caolín, carbonato de litio y TEOS o γ- alúmina respectivamente. Los polvos de las dos composiciones de eucriptita se han caracterizado mediante difracción de Rayos X de alta resolución a alta temperatura entre 25 y 1200 ºC. Se ha estudiado el efecto de la temperatura en la estructura y la composición mediante la determinación de los parámetros de red y la estructura cristalina. Los cambios observados se han relacionado con las variaciones del CTE con la temperatura de sinterización de materiales basados en estas composiciones.