Design and performance of two orthogonal extraction time-of-flight secondary ion mass spectrometers for focused ion beam instruments
- Alberts, D.
- Von Werra, L.
- Oestlund, F.
- Rohner, U.
- Hohl, M.
- Michler, J.
- Whitby, J.A.
ISSN: 1525-6030, 1073-9149
Año de publicación: 2014
Volumen: 42
Número: 4
Páginas: 432-445
Tipo: Artículo