Single-Frequency Imaging and Material Characterization Using Reconfigurable Reflectarrays

  1. Zhang, W.
  2. Gomez-Sousa, H.
  3. Heredia-Juesas, J.
  4. Martinez-Lorenzo, J.A.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques

ISSN: 1557-9670,  0018-9480

Argitalpen urtea: 2021

Alea: 69

Zenbakia: 7

Orrialdeak: 3360-3371

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TMTT.2021.3061597 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus