Complete Thermoelectric Characterization of PEDOT:PSS Thin Films with a Novel ZT Test Chip Platform
- Linseis, V.
- Hassan, Z.M.
- Reith, H.
- Garcia, J.
- Nielsch, K.
- Baumgart, H.
- Redel, E.
- Woias, P.
ISSN: 1862-6319, 1862-6300
Año de publicación: 2018
Volumen: 215
Número: 7
Tipo: Artículo