In-depth profile analysis of oxide films by radiofrequency glow discharge optical emission spectrometry (rf-GD-OES): Possibilities of depth-resolved solid-state speciation

  1. Malherbe, J.
  2. Fernández, B.
  3. Martinez, H.
  4. Chapon, P.
  5. Panjan, P.
  6. Donard, O.F.X.
Revista:
Journal of Analytical Atomic Spectrometry

ISSN: 0267-9477,  1364-5544

Año de publicación: 2008

Volumen: 23

Número: 10

Páginas: 1378-1387

Tipo: Artículo

DOI: 10.1039/B803713B GOOGLE SCHOLAR
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