Estudio del test de tarjetas de circuito impreso con circuitos digitales vlsi y memorias ram
- José Miguel Ruiz González Directeur/trice
Université de défendre: Universidad de Valladolid
Année de défendre: 1998
- Santiago Lorenzo Matilla President
- Francisco José de Andrés Rodríguez-Trelles Secrétaire
- Luis Javier de Miguel González Rapporteur
- Juan J. Rodríguez Andina Rapporteur
- Luis Serrano Arriezu Rapporteur
Type: Thèses
Résumé
Estudio de los principales conceptos y herramientas de test de circuitos: modelo de fallos, algoritmos generadores de lectores de test, simulación de fallos, técnicas dft y técnicas bist (pseudoexhaustivas y pseudoaleatorias). Estudio del standar ieee 1149.1 para el test de tarjetas de circuito impreso. Propuesta de un nuevo método de generación de vectores de test para circuitos VLSI. Estudio del test de memorias ram. Aplicación de las distintas técnicas vistas a un módulo ejemplo.