Systematic study of the influence of the angle of incidence discretization in reflectarray analysis to improve support vector regression surrogate models

  1. Prado, D.R.
  2. López-Fernández, J.A.
  3. Arrebola, M.
Revista:
Electronics (Switzerland)

ISSN: 2079-9292

Año de publicación: 2020

Volumen: 9

Número: 12

Páginas: 1-18

Tipo: Artículo

DOI: 10.3390/ELECTRONICS9122105 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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