Surface defect system for long product manufacturing using differential topographic images

  1. DelaCalle Herrero, F.J.
  2. García, D.F.
  3. Usamentiaga, R.
Revista:
Sensors (Switzerland)

ISSN: 1424-8220

Año de publicación: 2020

Volumen: 20

Número: 7

Tipo: Artículo

DOI: 10.3390/S20072142 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
Fuente de los datos: Scopus