Zr-BN multilayers obtained by ion-assisted sputtering: An FT-IR, GAXRD and AES depth profiling characterization

  1. Prieto, P.
  2. Quirós, C.
  3. Elizalde, E.
  4. Sanz, J.M.
Revista:
Surface and Coatings Technology

ISSN: 0257-8972

Año de publicación: 1996

Volumen: 84

Número: 1-3

Páginas: 392-397

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/S0257-8972(95)02731-9 GOOGLE SCHOLAR
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