An evaluation, by Fourier analysis, of some of the errors introduced in reflectance measurements

  1. Marcos, C.
  2. Virgos, J.M.
  3. Nicieza, C.G.
Revista:
Journal of Microscopy

ISSN: 1365-2818 0022-2720

Año de publicación: 1987

Volumen: 146

Número: 2

Páginas: 163-167

Tipo: Artículo

DOI: 10.1111/J.1365-2818.1987.TB01337.X GOOGLE SCHOLAR