Extrinsic calibration of a conoscopic holography system integrated in a CMM
- Zapico, P.
- Fernández, P.
- Rico, J.C.
- Valiño, G.
- Patiño, H.
Aldizkaria:
Precision Engineering
ISSN: 0141-6359
Argitalpen urtea: 2018
Alea: 52
Orrialdeak: 484-493
Mota: Artikulua