Automatic Testing of Design Faults in MapReduce Applications

  1. Moran, J.
  2. Bertolino, A.
  3. De La Riva, C.
  4. Tuya, J.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Reliability

ISSN: 0018-9529

Argitalpen urtea: 2018

Alea: 67

Zenbakia: 3

Orrialdeak: 717-732

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TR.2018.2802047 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus