Evaluation of different strategies for quantitative depth profile analysis of Cu/NiCu layers and multilayers via pulsed glow discharge – Time of flight mass spectrometry
- Muñiz, R.
- Lobo, L.
- Németh, K.
- Péter, L.
- Pereiro, R.
Revista:
Spectrochimica Acta - Part B Atomic Spectroscopy
ISSN: 0584-8547
Año de publicación: 2017
Volumen: 135
Páginas: 34-41
Tipo: Artículo