Depth profile analysis of amorphous silicon thin film solar cells by pulsed radiofrequency glow discharge time of flight mass spectrometry

  1. Alvarez-Toral, A.
  2. Sanchez, P.
  3. Menéndez, A.
  4. Pereiro, R.
  5. Sanz-Medel, A.
  6. Fernández, B.
Revista:
Journal of the American Society for Mass Spectrometry

ISSN: 1879-1123,  1044-0305

Año de publicación: 2015

Volumen: 26

Número: 2

Páginas: 305-314

Tipo: Artículo

DOI: 10.1007/S13361-014-1022-9 GOOGLE SCHOLAR
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