A path towards a better characterisation of silicon thin-film solar cells: Depth profile analysis by pulsed radiofrequency glow discharge optical emission spectrometry

  1. Sanchez, P.
  2. Fernández, B.
  3. Menéndez, A.
  4. Gómez, D.
  5. Pereiro, R.
  6. Sanz-Medel, A.
Revista:
Progress in Photovoltaics: Research and Applications

ISSN: 1099-159X,  1062-7995

Año de publicación: 2014

Volumen: 22

Número: 12

Páginas: 1246-1255

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/PIP.2387 GOOGLE SCHOLAR
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