Minor elements determination and evaluation of diffusion/segregation effects on ultra-thin layers using pulsed-RF-GD-TOFMS

  1. Pisonero, J.
  2. Licciardello, A.
  3. Hierro-Rodríguez, A.
  4. Quirós, C.
  5. Sanz-Medel, A.
  6. Bordel, N.
Revista:
Journal of Analytical Atomic Spectrometry

ISSN: 0267-9477,  1364-5544

Any de publicació: 2011

Volum: 26

Número: 8

Pàgines: 1604-1609

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1039/C1JA10075K GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus