Elemental analysis of silicon based minerals by ultrasonic slurry sampling electrothermal vaporisation ICP-MS

  1. Rodríguez, P.F.
  2. Marchante-Gayón, J.M.
  3. Sanz-Medel, A.
Revista:
Talanta

ISSN: 0039-9140

Año de publicación: 2006

Volumen: 68

Número: 3

Páginas: 869-875

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.TALANTA.2005.06.006 GOOGLE SCHOLAR