In-depth profile analysis of thin films deposited on non-conducting glasses by radiofrequency glow-discharge-optical emission spectrometry
- Fernández, B.
- Martín, A.
- Bordel, N.
- Pereiro, R.
- Sanz-Medel, A.
ISSN: 1618-2642, 1618-2650
Año de publicación: 2006
Volumen: 384
Número: 4
Páginas: 876-886
Tipo: Artículo