Radiofrequency glow discharge-optical emission spectrometry for the analysis of metallurgical-grade silicon

  1. Menéndez, A.
  2. Bordel, N.
  3. Pereiro, R.
  4. Sanz-Medel, A.
Revista:
Journal of Analytical Atomic Spectrometry

ISSN: 0267-9477

Año de publicación: 2005

Volumen: 20

Número: 3

Páginas: 233-235

Tipo: Artículo

DOI: 10.1039/B416166A GOOGLE SCHOLAR