In-depth profile analysis by radiofrequency glow discharge optical emission spectrometry using pressure as variable parameter

  1. Pisonero, J.
  2. Pérez, C.
  3. Pereiro, R.
  4. Bordel, N.
  5. Sanz-Medel, A.
Revista:
Journal of Analytical Atomic Spectrometry

ISSN: 0267-9477

Año de publicación: 2001

Volumen: 16

Número: 4

Páginas: 370-375

Tipo: Artículo

DOI: 10.1039/B010059P GOOGLE SCHOLAR

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