JOSE MARIA ENGUITA GONZALEZ-rekin lankidetzan egindako argitalpenak (27)

2016

  1. Algebra lineal básica para visión por computador

    Conceptos y métodos en visión por computador (Grupo de Visión del Comité Español de Automática (CEA)), pp. 337-348

  2. Geometría proyectiva para visión 3D

    Conceptos y métodos en visión por computador (Grupo de Visión del Comité Español de Automática (CEA)), pp. 349-358

  3. Procesamiento morfológico

    Conceptos y métodos en visión por computador (Grupo de Visión del Comité Español de Automática (CEA)), pp. 77-98

  4. Theoretical design of a depolarized interferometric fiber-optic gyroscope (IFOG) on SMF-28 single-mode standard optical fiber based on closed-loop sinusoidal phase modulation with serrodyne feedback phase modulation using simulation tools for tactical and industrial grade applications

    Sensors (Switzerland), Vol. 16, Núm. 5

  5. Visión 3D: Estereoscopía

    Conceptos y métodos en visión por computador (Grupo de Visión del Comité Español de Automática (CEA)), pp. 247-264

2015

  1. Conical diffraction thin crystal device on full-scene images

    Journal of Optics (United Kingdom), Vol. 17, Núm. 12

2012

  1. In situ 3D profilometry of rough objects with a lateral shearing interferometry range finder

    Optics and Lasers in Engineering, Vol. 50, Núm. 11, pp. 1559-1567

2011

  1. Fringe pattern characterization by OPD analysis in a lateral shearing interferometric profilometer

    Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

2009

  1. Common-path two-wavelength interferometer with sub-micron precision for profile measurements in on-line applications

    Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

  2. Industrial on-line surface defects detection in continuous casting hot slabs

    Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

  3. On-line metrology with conoscopic holography: Beyond triangulation

    Sensors, Vol. 9, Núm. 9, pp. 7021-7037

  4. Toward extended range sub-micron Conoscopic Holography profilometers, using multiple wavelengths and phase measurement

    Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering