On-Machine LTS Integration for Layer-Wise Surface Quality Characterization in MEX/P

  1. Fernández, A.
  2. Zapico, P.
  3. Blanco, D.
  4. Peña, F.
  5. Beltrán, N.
  6. Mateos, S.
Aldizkaria:
Sensors

ISSN: 1424-8220

Argitalpen urtea: 2024

Alea: 24

Zenbakia: 11

Mota: Artikulua

DOI: 10.3390/S24113459 GOOGLE SCHOLAR lock_openSarbide irekia editor

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus