Influence of the hydrogen contained in amorphous silicon thin films on a pulsed radiofrequency argon glow discharge coupled to time of flight mass spectrometry. Comparison with the addition of hydrogen as discharge gas

  1. Sánchez, P.
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Revista:
Journal of Analytical Atomic Spectrometry

ISSN: 0267-9477 1364-5544

Año de publicación: 2012

Volumen: 27

Número: 1

Páginas: 71-79

Tipo: Artículo

DOI: 10.1039/C1JA10235D GOOGLE SCHOLAR

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