Surface x-ray diffraction analysis using a genetic algorithm: The case of Sn/Cu(100)-(3√2 × √2)R45°
- Martínez-Blanco, J.
- Joco, V.
- Quirós, C.
- Segovia, P.
- Michel, E.G.
ISSN: 0953-8984, 1361-648X
Año de publicación: 2009
Volumen: 21
Número: 13
Tipo: Artículo