On-line submicron profile measurements from safe distances with conoscopic holography: Feasibility and potential problems
- Álvarez, I.
- Enguita, J.M.
- Marina, J.
- Fraga, C.
ISSN: 1560-2303, 0091-3286
Año de publicación: 2008
Volumen: 47
Número: 2
Tipo: Artículo