Conoscopic holography-based long-standoff profilometer for surface inspection in adverse environment

  1. Enguita, J.M.
  2. Álvarez, I.
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  6. Sirat, G.
Zeitschrift:
Optical Engineering

ISSN: 0091-3286 1560-2303

Datum der Publikation: 2006

Ausgabe: 45

Nummer: 7

Art: Artikel

DOI: 10.1117/1.2219097 GOOGLE SCHOLAR

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