Conoscopic holography-based long-standoff profilometer for surface inspection in adverse environment

  1. Enguita, J.M.
  2. Álvarez, I.
  3. Fraga, C.
  4. Marina, J.
  5. Fenández, Y.
  6. Sirat, G.
Revista:
Optical Engineering

ISSN: 0091-3286 1560-2303

Any de publicació: 2006

Volum: 45

Número: 7

Tipus: Article

DOI: 10.1117/1.2219097 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible